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Pressure-Induced Phase Transitions in AB2X4 Chalcogenide Compounds

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Design and Advanced Robust Chassis Dynamics Control for X-by-Wire Unmanned Ground Vehicle

Jun Ni, Jibin Hu, Changle Ziang

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Ultrathin Metal Films

Matthias Wuttig, X. Liu

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Zugförderung, 2 Tle.

Julius Alexander, V. G. Bosshardt, C. Guillery, Friedrich Ibbach, Hermann Littrow, Moritz Oder, Richard Peterson, Rudolf Sanzin, F. X. Saurau, C. P. Schäfer, W. Stahl, Jack Wittenberg

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Transparent Ceramics

Ling Bing Kong, Y. Z. Huang, W. X. Que, T. S. Zhang, S. Li, J. Zhang, Z. L. Dong, D. Y. Tang

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Erschienen am 22.05.2015

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Advanced X-ray Detector Technologies

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In-situ Small-Angle X-ray Scattering Investigation of Transient Nanostructure of Multi-phase Polymer Materials Under Mechanical Deformation

Ahmad Zeinolebadi

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The Minerals, Metals & Materials Series / Proceedings of the 6th International Conference on Recrystallization and Grain Growth (ReX&GG 2016)

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Metal-Halide Perovskite Semiconductors

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Einfluss der Korngröße auf ferroelektrische Eigenschaften dotierter Pb(Zr1-xTix)O3 Materialien

Gunnar Picht

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$X-Ray Diffraction$

X-Ray Diffraction

C Suryanarayana, M. Grant Norton

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X-Ray CT

Hiroyuki Toda

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Elektronische Kommunikation - X.400 MHS

Manfred Bogen, Uta Pankoke-Babatz

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Systemprogrammierung OS/2 2.x

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Erschienen am 23.08.2014

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Automatisiertes Fahren 2024

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Erscheint am 27.10.2024

Mechanics of Elastic Structures with Inclined Members

Chin Hao Chang

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Metal-Halide Perovskite Semiconductors

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Shepherding UxVs for Human-Swarm Teaming

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Fibre Reinforced Concrete: Improvements and Innovations II

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ICoRD'15 - Research into Design Across Boundaries Volume 2

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Making Presentation Math Computable

André Greiner-Petter

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Eric Berger

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Erschienen am 16.01.2023

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Kreishohlprofil-X-Knoten aus nichtrostenden Stählen unter Axialbeanspruchung

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Formal Equivalence Checking and Design Debugging

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Delay Fault Testing for VLSI Circuits

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Intelligent Network Integration of Distributed Renewable Generation

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Das kleine 1x1 der strukturierten Verkabelung

Gerhard Lagler

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Erschienen am 02.02.2010

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Applied Scanning Probe Methods X.Vol.10

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Erschienen am 11.01.2008

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